Difracción de rayos X y el método Rietveld

Estas notas tienen como objetivo presentar, en primer lugar,la parte te?rica relacionada con los aspectos principales de la difracci?n derayos-x. Con estos aspectos te?ricos el lector entender? como se calculan lasdiferentes caracter?sticas estructurales de una muestra a estudiar por medio deun programa basado en el M?todo Rietveld. En segundo, lugar se describesomeramente como trabaja el m?todo y se muestran las relaciones emp?ricas quese utilizan para describir el perfil de las l?neas de difracci?n; luego seenumeran y explican cu?les son los par?metros que refina el programa GSAS yc?mo ellos se relacionan con las informaciones estructurales de inter?s.Posteriormente, se muestran los pasos a seguir para refinar un patr?n dedifracci?n de una muestra de calibraci?n (hexaboruro de Lantano, LaB6) y seresalta el papel de ella en la obtenci?n de los par?metros estructurales deotras muestras a estudiar; luego se ilustran los pasos a seguir para refinarunos patrones de difracci?n de muestras con orientaci?n preferencial (brucita)y de aquellas con tres fases y obtener, adem?s de los par?metros estructurales,un an?lisis cuantitativo de ella.